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PN-12型導電類型鑒別儀采用整流法（也稱三探針法）和溫差法（也稱冷熱探筆法來判斷單晶（或多晶）硅的導電類型（N型或P型），用N型和P型顯示屏直接顯示單晶（或多晶）導電類型。 可判斷硅材料的電阻率范圍 溫差法：10-4Ω·Cm～105Ω·Cm； 整流法：10-2Ω·Cm～104Ω·Cm；

PN-30型導電類型鑒別儀采用整流法（也稱三探針法）和溫差法（也稱冷熱探筆法來判斷單晶（或多晶）硅的導電類型（N型或P型），用N型和P型顯示屏直接顯示單晶（或多晶）導電類型。 該儀器特別采用工控指示開關，顯示清晰、經久耐用；可隨機調零；自動加熱、保溫。具有體積小、重量輕、性能穩(wěn)定、測試簡便、準確可靠等優(yōu)點。

RTS-1345型全自動四探針測試系統(tǒng) 可對樣品進行單點、五點、九點、多點、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試； 屏蔽測試，*消除光線對樣品測試的影響，保證測量的準確性； 吸附測試，*消除全自動測試過程中樣品移動對測試的影響；

ST-21L型方塊電阻測試儀 采用大規(guī)模集成電路作為儀器的主要部分，測量準確穩(wěn)定，低功耗； 以大屏幕LCD顯示讀數(shù)，直觀清晰； 采用單個電池供電，帶電池欠壓指示； 體積≤175mm X90mm X42mm，重量≤300g； 特制之手握式探筆，球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜 探頭帶抗靜電模塊

ST-21H型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準，專門測量半導體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。

ST-21型方塊電阻測試儀以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準電源和運算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測量速度快、精度高的特點。

RTS-3型手持式四探針測試儀 測量范圍寬、精度高、穩(wěn)定性好、結構緊湊、易操作的手持式設計； 體積僅為：185mm（長）*90mm（寬）*30mm（高）； 重量：350g； 使用鋰電池供電，一次充電可連續(xù)使用100小時；

RTS-2/RTS-2A型便攜式四探針測試儀是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備。該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。

RTS-11型金屬四探針測試儀 于測試低阻金屬材料電阻率及方塊電阻 測量范圍：電阻率：10-7～10-2Ω.cm； 方塊電阻：10-6～10-1Ω/□； 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量設備，該儀器按照單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國 A.S.T.M 標準而設計的，于測試金屬材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）的儀器。

RTS-5型雙電測四探針測試儀測試程序控制四探針測試儀進行測量并采集測試數(shù)據(jù)，把采集到的數(shù)據(jù)在計算機中加以分析，然后把測試數(shù)據(jù)以表格，圖形直觀地記錄、顯示出來。用戶可對采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看，還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中，讓用戶對數(shù)據(jù)進行各種數(shù)據(jù)分析